|
SJ/T 11856.1-2022
|
光纤通信用半导体激光器芯片技术规范 第1部分:光源用法布里 泊罗型及分布式反馈型半导体激光器芯片 |
现行
|
|
SJ/T 11855-2022
|
光伏用紫外老化试验箱辐照性能测试方法 |
现行
|
|
SJ/T 11854-2022
|
光伏用直拉单晶炉 |
现行
|
|
SJ/T 11853-2022
|
正压悬浮区熔单晶硅炉 |
现行
|
|
SJ/T 11852-2022
|
服务型机器人用锂离子电池和电池组通用规范 |
现行
|
|
SJ/T 11851-2022
|
半导体分立器件 S3DK5794型NPN硅小功率开关晶体管对管详细规范 |
现行
|
|
SJ/T 11850-2022
|
半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 |
现行
|
|
SJ/T 11849-2022
|
半导体分立器件3DG3500、3DG3501型NPN硅高频小功率 晶体管详细规范 |
现行
|
|
SJ/T 11848-2022
|
半导体分立器件 3DG2484型NPN硅高频小功率晶体管详细规范 |
现行
|
|
SJ/T 11846-2022
|
电压调整器低频噪声参数测试方法 |
现行
|
|
SJ/T 11845.3-2022
|
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分:二极管 |
现行
|
|
SJ/T 11845.2-2022
|
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分:光电耦合器件 |
现行
|
|
SJ/T 11845.1-2022
|
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分:通用要求 |
现行
|
|
SJ/T 11838-2022
|
水泥行业信息化和工业化融合评估规范 |
现行
|
|
SJ/T 11834-2022
|
车用平视显示器光学性能测试方法 |
现行
|
|
SJ/T 11833.5—2022/IEC 61747-40-5:2018
|
移动显示器件用玻璃盖板 第5部分:机械试验方法 刚性支撑受试件抗尖锐物体的动态撞击 |
现行
|
|
SJ/T 11833.4—2022/IEC 61747—40—4:2015
|
移动显示器件用玻璃盖板 第4部分:机械试验方法_双轴弯曲强度(环对环) |
现行
|
|
SJ/T 11832.3-2022
|
薄化液晶显示盒 第3部分 检测方法 |
现行
|
|
SJ/T 11832.1-2022
|
薄化液晶显示盒 第1部分:术语 |
现行
|
|
SJ/T 11831-2022
|
车内用直流电源适配器技术规范 |
现行
|